Systèmes et microsystèmes pour la caractérisation

[actes du Colloque interdisciplinaire en instrumentation], 31 janvier-1er février 2001, Conservatoire national des arts et métiers, Paris

auteur :Colloque interdisciplinaire en instrumentation (2001 ; Paris)

contributeurs :Dominique Placko, Yves Surrel, François Lepoutre

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Genre :Actes de congrès

Sujets :Instruments de mesure · Microtechniques

Première parution: 2001
Éditeur: impr. Hermes
Paris
Pages: 595
Éditions: 1
Langue: Français

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Édition

	Année	Éditeur	ISBN	Pages	Ville	Occasion	Notice
	2001	impr. Hermes	2-7462-0209-3	595	Paris	AbeBooks · Momox

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