Morphologie des distributions de défauts dans GaAs-Si par imagerie infra-rouge numérique
auteur :Fugui Zhang
- Première parution
- 1986
- Éditeur
- ANRTGrenoble 2
- Pages
- —
- Éditions
- 1
- Langue
- Français
Trouver ce livre d’occasion
Recherche préremplie — titre et auteur, toutes éditions confondues — chez 8 marchands d’occasion et sites de petites annonces.
Introuvable en stock ? Recevez une alerte
Beaucoup d’éditions sont épuisées — soyez prévenu par email quand une offre d’occasion réapparaît, au prix qui vous convient.
Votre adresse sert uniquement à vous prévenir pour ce livre : une confirmation vous sera demandée par email, et chaque message contient un lien de désinscription en un clic. Aucune revente, aucune lettre d’information.