$Couverture de Etude de l'interface Cr/Si(III) par photoémission angulaire et diffraction d'électrons lents$

Etude de l'interface Cr/Si(III) par photoémission angulaire et diffraction d'électrons lents

épitaxie des siliciures CrSi et CrSi sur Si(III)

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Première parution: 1988
Éditeur: ANRT
Grenoble 2
Pages: —
Éditions: 1
Langue: Français

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Édition

	Année	Éditeur	ISBN	Pages	Ville	Occasion	Librairie	Notice
$Couverture de Etude de l'interface Cr/Si(III) par photoémission angulaire et diffraction d'électrons lents$	1988	ANRT	—	—	Grenoble 2	Vinted

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