Etude de l'interface Cr/Si(III) par photoémission angulaire et diffraction d'électrons lents
épitaxie des siliciures CrSi et CrSi sur Si(III)
auteur :Patrick Wetzel
- Première parution
- 1988
- Éditeur
- ANRTGrenoble 2
- Pages
- —
- Éditions
- 1
- Langue
- Français
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