# Etude de la dégradation du transistor NMOS due à l'injection d'électrons chauds dans l'oxyde de grille et à l'interface oxyde-silicium, proposition d'un test accélérant ce phénomène de vieillissement

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- **Auteur** : [Philippe Orhant](https://superlivre.fr/auteur/philippe-orhant-cb12266377w)
- **Première parution** : 1986
- **Langue** : français
- **Éditions recensées** : 1 (1986–1986)

## Éditions

| Année | Éditeur | Ville | Pages | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| 1986 | [ANRT](https://superlivre.fr/editeur/anrt) | Grenoble 2 |  |  |