# Développement d'une technique d'analyse localisée des défauts électriquement actifs dans les semiconducteurs

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- **Auteur** : [Thomas Heiser](https://superlivre.fr/auteur/thomas-heiser-cb12465355p) (1960–)
- **Première parution** : 1988
- **Langue** : français
- **Éditions recensées** : 1 (1988–1988)

## Éditions

| Année | Éditeur | Ville | Pages | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| 1988 | [ANRT](https://superlivre.fr/editeur/anrt) | Grenoble 2 |  |  |