$Couverture de Détermination des contraintes résiduelles par diffraction des rayons X$

Détermination des contraintes résiduelles par diffraction des rayons X

auteur :Arts et métiers ParisTech

contributeur :Lorraine Castex

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Sujets :Contraintes résiduelles · Mesure · Rayons X -- Diffraction

Première parution: 1981
Éditeur: ENSAM
Paris
Pages: 206
Éditions: 1
Langue: Français

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Édition

	Année	Éditeur	ISBN	Pages	Ville	Occasion	Librairie	Notice
$Couverture de Détermination des contraintes résiduelles par diffraction des rayons X$	1981	ENSAM	—	206	Paris	Vinted

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