Détection de défauts en radiographie industrielle

approches multiéchelles

auteur :Mireille Lefèvre

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Sujets :Détection de défaut (ingénierie) · Radiographie industrielle

Première parution: 1995
Éditeur: École nationale supérieure des télécommunications
Paris
Pages: —
Éditions: 1
Langue: Français

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Édition

	Année	Éditeur	ISBN	Pages	Ville	Occasion	Notice
	1995	École nationale supérieure des télécommunications	—	—	Paris	Vinted

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