Caractérisation microstructurale des matériaux

analyse par les rayonnements X et électronique

auteur :Claude Esnouf

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Sujets :Cristallographie · Microstructure (physique) · Rayons X

Première parution: 2011
Éditeur: Presses polytechniques et universitaires romandes
Lausanne
Pages: 579
Éditions: 1
Langue: Français

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Édition

	Année	Éditeur	ISBN	Pages	Ville	Occasion	Notice
	2011	Presses polytechniques et universitaires romandes	978-2-88074-884-5	579	Lausanne	AbeBooks · Momox

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