Caractérisation de structures M.I.S. par méthodes électriques et par ellipsométrie spectroscopique

application au transistor à effet de champ

Première parution: 1987
Éditeur: ANRT
Grenoble 2
Pages: —
Éditions: 1
Langue: Français

Trouver ce livre d’occasion

Recherche préremplie — titre et auteur, toutes éditions confondues — chez 8 marchands d’occasion et sites de petites annonces.

Momox RecycLivre Rakuten Vinted Leboncoin AbeBooks

Édition

	Année	Éditeur	ISBN	Pages	Ville	Occasion	Notice
	1987	ANRT	—	—	Grenoble 2	Vinted

Voir la notice BNF →

Introuvable en stock ? Recevez une alerte

Beaucoup d’éditions sont épuisées — soyez prévenu par email quand une offre d’occasion réapparaît, au prix qui vous convient.

Votre adresse sert uniquement à vous prévenir pour ce livre : une confirmation vous sera demandée par email, et chaque message contient un lien de désinscription en un clic. Aucune revente, aucune lettre d’information.