Analyse structurale et chimique des matériaux

diffraction des rayons X, électrons et neutrons, spectrométrie des rayons X, électrons et ions, microscopie électronique

auteur :Jean-Pierre Eberhart

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Sujets :Matériaux -- Analyse · Microscopie électronique -- Technique · Spectroscopie · Surfaces (technologie) -- Analyse

Première parution: 1989
Éditeur: Dunod
Paris
Pages: 614
Éditions: 2
Langue: Français

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Les 2 éditions

	Année	Éditeur	ISBN	Pages	Ville	Occasion	Notice
	1989	Dunod	2-04-018797-9	614	Paris	AbeBooks · Momox

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