| Année | Titre | Éditeur | Pages |
|---|---|---|---|
| 1988 | Système d'évaluation par analyse d'images du désordre des défauts dans les semiconducteurs III-V | ANRT | — |
Auteurs ayant un livre paru la même année chez un éditeur de Massoud Asgarinia.
| Auteur | Contexte(s) | Croisements |
|---|---|---|
| Mathieu Kinouani | ANRT (1988) | 1 |
| Georges Misri | ANRT (1988) | 1 |
| Abdelkrim Haouam | ANRT (1988) | 1 |
| Pierre Bovet |
| 1 |
| Marthe Broutelle | ANRT (1988) | 1 |
| Marc Scialom | ANRT (1988) | 1 |
| Edmund Husserl | ANRT (1988) | 1 |
| Michel Anselme | ANRT (1988) | 1 |